產品導航Product
光切法顯微鏡原理
光切法顯微鏡（Optical Sectioning Microscope），又稱光切顯微鏡或雙管顯微鏡，其原理主要基于光的反射、折射以及光切法測量技術。以下是該顯微鏡原理的詳細......[查看詳情]
光切法顯微鏡使用說明
光切法顯微鏡是一種利用光的反射和折射原理來觀察微小物體表面輪廓的光學儀器，其使用說明主要包括以下幾個方面： 一、準備工作 檢查與清潔： 在使用前，檢查顯微鏡的狀態，包括是......[查看詳情]
干涉顯微鏡的使用方法
干涉顯微鏡的使用方法涉及多個步驟，以下是一個詳細的操作流程： 一、準備工作 取下防塵罩：確保顯微鏡處于清潔狀態，避免灰塵對觀測結果的影響。 啟動顯微鏡：打開顯微鏡底座后方......[查看詳情]
干涉顯微鏡的工作原理
干涉顯微鏡的工作原理主要基于光波的干涉原理，通過測量光波在樣品表面反射后產生的光程差或相位差，來精確測定樣品表面的微小高度差異或結構特征。以下是干涉顯微鏡工作原理的詳細闡述： ......[查看詳情]
表面粗糙度儀校準規范
表面粗糙度儀的校準規范是確保測量結果準確性和可靠性的重要環節。以下是詳細的校準規范： 一、校準前準備 工具與設備：準備標準塊（校準板）、表面粗糙度校準器、清潔布、校準砝碼等......[查看詳情]
表面粗糙度儀使用教程
表面粗糙度儀的使用教程可以大致分為以下幾個步驟，以確保測試的準確性和儀器的良好運行： 一、準備工作 工作環境準備： 溫度：保持在15℃～25℃之間。 濕度：控制在20%......[查看詳情]
激光干涉儀的測量方法
激光干涉儀的測量方法主要基于光的干涉原理，通過測量干涉條紋的變化來推斷被測量物體的參數。以下是激光干涉儀測量方法的詳細步驟和要點： 一、基本原理 激光干涉儀利用兩束相干光在......[查看詳情]
激光平面干涉儀校準規范
激光平面干涉儀校準規范涉及多個方面，包括校準的目的、范圍、環境條件、校準項目、校準方法以及校準結果的處理等。以下是對激光平面干涉儀校準規范的一個概述： 一、校準目的 激光平......[查看詳情]
測量投影儀的使用步驟
測量投影儀的使用步驟通常包括以下幾個關鍵步驟，這些步驟旨在確保投影儀能夠正常工作并準確地進行測量。請注意，由于不同品牌和型號的測量投影儀可能存在細微差異，因此在實際操作前，建議......[查看詳情]
測量投影儀的使用方法
測量投影儀的使用方法主要包括以下幾個步驟，但請注意，具體操作可能因投影儀品牌和型號的不同而有所差異。因此，在實際操作前，建議仔細閱讀相關的用戶手冊或操作指南。 一、準備工作 ......[查看詳情]
